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单选题

重要场合使用的元器件或仪表,购入后需进行高、低温循环“老化”试验,其目的是为了加速通过________,减小故障率。

A随机失效期

B偶然失效期

C初期失效期

D衰老失效期

正确答案:A (备注:此答案有误)

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