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单选题

CSK-I试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40,Φ44,Φ50台阶孔,其目的是( )。

A测定斜探头K值

B测定直探头盲区范围

C测定斜探头分辨力

D测定斜探头偏斜角

正确答案:A (备注:此答案有误)

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