单选题

用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回将至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB,则（）。

A前一个缺陷大于后一个

B后一个缺陷大于前一个

C两者一样大

D两者关系不确定

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正确答案：A （备注：此答案有误）

相似试题

单选题

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。

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判断题

垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离。

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单选题

用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回将至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB,则（）。

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判断题

用不同角度的探头对同一缺陷探测时，所得缺陷的深度是不同的。

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判断题

分别用70°和37°探头对同一缺陷进行探测，探得的缺陷深度的刻度是不相等的。

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